A、A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正
B、B、σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大
C、C、为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距
D、D、为提高底片对比度,应尽量采用σ>1的透照布置
A、A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正
B、B、σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大
C、C、为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距
D、D、为提高底片对比度,应尽量采用σ>1的透照布置
时间:2022-01-03 15:52 关键词: 中级无损检测技术资格人员 无损检测技术资格人员考试
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